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探針對半導體封測環(huán)節(jié)的影響
文章出處：公司動態(tài) 責任編輯：深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量：- 發(fā)表時間：2024-04-17 00:00:00
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探針是應用在半導體產(chǎn)品測試環(huán)節(jié)中的重要器件，其品質(zhì)的優(yōu)劣對半導體產(chǎn)品的測試效果、生產(chǎn)效率以及生產(chǎn)成本控制都有著重要的影響。
探針產(chǎn)品的品質(zhì)主要體現(xiàn)在測試頻寬、產(chǎn)品尺寸、加工精度、可負載電流、耐久度等方面。
作為集成電路測試器中的關(guān)鍵部件，一套測試治具需要用到幾十、幾百甚至于上千根測試探針，因此儒眾智能從探針的結(jié)構(gòu)設計、材料組成、生產(chǎn)制造等方面都投入大量研究。
深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車床車削成形，經(jīng)過精密的鍍層、硬度、壽命測試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當。同時還提供德國INGUN、美國QA、臺灣CCP等名牌探針。想要了解華榮華探針的更多信息，請與華榮華聯(lián)系。
